Absicherung teurer HiL-Infrastruktur gegen Hochspannungsschäden
Die Absicherung teurer HiL-Infrastruktur ist für Tier-1-Zulieferer in der Automotive-Entwicklung ein kritischer Erfolgsfaktor. Insbesondere bei der Validierung von Invertern mit Hardware-in-the-Loop-Systemen entstehen hohe Risiken für Testequipment und Entwicklungsbudgets.
Herausforderung im Prüfaufbau durch Hochspannungsrückspeisung in HiL-Testumgebungen
Warum es kritisch ist
Bei Fehlversuchen oder Kurzschlüssen im Prototypen besteht die Gefahr, dass Hochspannung in die Niedervolt‑Eingänge der HiL‑Simulatoren rückspeist und dort erhebliche Schäden verursacht.
Wer ist betroffen?
Testingenieure und Entwicklungsteams in der Steuergeräte‑ und Leistungselektronik‑Validierung, die mit hochpreisigen HiL‑Systemen arbeiten.
Risiken
- Schäden an HiL‑Simulatoren im sechsstelligen Euro‑Bereich
- Ausfall kritischer Testinfrastruktur
- Verzögerungen in der Inverter‑Validierung
- hohe Abhängigkeit von manuellen Sicherheitsmaßnahmen
Galvanische Sicherheitsbarriere für HiL-Simulatoren
Zur Absicherung der Testumgebung wurde die STB Rack-Mount als galvanische Sicherheitsbarriere eingesetzt. Sie fungiert als klar definierte Trennstelle zwischen Prüfling und Simulationsperipherie.
Trennung von Messsignalen und Leistungspfaden
Ein dediziertes Schnittstellen-Management stellt sicher, dass Messsignale und Leistungspfade strikt voneinander getrennt geführt werden. Dadurch wird eine Rückkopplung von Hochspannung in empfindliche Simulator-Eingänge verhindert.
Physische und elektrische Kapselung des Prüflings
Der Prüfling wird innerhalb der STB physisch und elektrisch gekapselt. Kritische Fehlerzustände wie Thermal Runaway oder Lichtbogen bleiben auf den Innenraum der Box begrenzt.
Absicherung teurer HiL-Infrastruktur
Im Fehlerfall bleibt die teure Simulations-Peripherie vollständig außerhalb der STB geschützt. Hochspannungsereignisse erreichen die HiL-Hardware nicht mehr.
Sicherer Betrieb der HiL‑Infrastruktur im Fehlerfall
Im Falle eines Bauteilversagens, Kurzschlusses oder eines Lichtbogens bleibt die angeschlossene Simulations‑Peripherie außerhalb der STB vollständig geschützt.
Die kritische Testinfrastruktur wird zuverlässig von Hochvolt‑Risiken entkoppelt – unabhängig von manuellen Eingriffen oder Bedienfehlern.
- vollständiger Schutz der HiL‑Simulatoren
- keine Rückspeisung von Hochspannung
- stabile und reproduzierbare Testbedingungen
- reduzierte Ausfallrisiken im Prüfprozess
Reduktion von Ausfall- und Reparaturrisiken
Das Risiko von Schäden im sechsstelligen Euro-Bereich wurde wirksam eliminiert. Gleichzeitig erhöht sich die Betriebssicherheit der gesamten HiL-Testumgebung.
